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日本OMRON形状测量传感器
日本OMRON形状测量传感器支持多品种、小批量可向控制器本体输入Z多16个(16个数据库)测量条件。只需通过信号输入/指令输入/按键操作即可进行数据库切换。如果使用数据储存单元,更可以输入Z多4096个数据库,即使在品种繁多的线上,也可快速对应各种测量。
日本OMRON形状测量传感器
支持多品种、小批量
可向控制器本体输入zui多16个(16个数据库)测量条件。只需通过信号输入/指令输入/按键操作即可进行数据库切换。如果使用数据储存单元,更可以输入zui多4096个数据库,即使在品种繁多的线上,也可快速对应各种测量。
更简单,更高精度的形状测量。
稳定测量难以检测的颜色、材质与复杂形状
构造简单
安装简便。只需要安装传感器探头与控制器,即可投入使用。
倾斜的透明物体、反光面
对于反光面和透明物体等正反射较强的测量对象,如果稍有倾斜,光反射量就会骤减,导致测量变得不稳定。而配置高高斯透镜探头的ZG2-WDS3VT课解决该问题。倾斜对应范围比此前型号扩大2.5倍,可在zui大±5°倾斜范围内实现稳定测量。使用与检测镜头与玻璃板等的组装。
光学方式 漫反射 正反射 漫反射 正反射 漫反射 正反射 漫反射
测量范围 高度方向 50±3mm 44±2mm 100±12mm 94±10mm 210±48mm
(高精度模式中) 22.3±0.5mm 10.6±0.4mm
宽度方向 8mmTYP 22mmTYP 70mmTYP 0.25μm
分辨率 高度方向(*1) 1μm 2.5μm 6μm 3mmTYP
宽度方向 13μm
(8mm/631pix) 35μm
(22mm/631pix) 111μm111μm
(70mm/631pix) 5μm
(3mm/631pix)
日本OMRON形状测量传感器
线性(高度方向)(*2) ±0.1%F.S.
温度特性(*3) 0.03%F.S./℃ 0.02%F.S./℃ 0.08%F.S./℃
光源 种类 可视半导体激光
波长 658nm 650nm
输出 zui大输出5mW zui大曝光(未使用光学仪器时)1mW 1mW max
激光等 EN60825-1/IEC60825-1的2M、FDA的ⅢB(21CFR1040.10与1040.11) EN60825-1/IEC60825-1的2、FDA的Ⅱ(21CFR1040.10与1040.11)
光束形状(根据测量距离)(*4) 30μm×24mmTYP 60μm×45mmTYP 120μm×75mmTYP 120μm×75mmTYP
LED显示灯 STAND BY:激光发光准备就绪时亮起(显示颜色:绿)
LD_ON:激光发光时亮起(显示颜色:绿)
测量对象 不透明物体/透明物体表面 不透明物体表面 不透明物体/透明物体表面
型号
G3B-205S-VD DC5-24
D4F-220-3R
D-1100
D5F-2B34C-Y
J7KNA-09-10 48D
E3T-ST13R 2M
J7KN-40 400
A16-24DSW
E6F-AB5B 360 2M
XW2Z-050J-A25
XW2Z-200J-B5
E39-F32C 1M
XS2R-D426-5
D4BL-1DRA
D4BL-1DRG
A16L-JR
K32-23209
E2K-F10MC1
E2K-X4MY2
TL-N10MY2 2M
TL-W3MB1-8
CS1W-NC113
CS1W-NC133
SHL-Q55
XV2-Q-2
CS1W-MD262
CPM2B-32C1DR-D
3G3JV-PFI3005-E
E6CP-AG5C-C 256 2M
ZX-EDA11 2M
ZX-CAL2
ZX-ED01T
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